I quarzi di tipo a tuning fork sono impiegati nella microscopia a scansione di forza atomica (AFM), e alcune tecniche derivate, come sensori ad elevata sensibilità delle interazioni, sia di tipo conservativo che dissipativo, della sonda nanometrica del microscopio AFM con la superficie in indagine. Tuttavia, nella risposta del sensore i contributi dei due tipi di interazione risultano convoluti, non consentendo di effettuare misure pienamente quantitative delle grandezze di interesse. Allo stato dell’arte, per ovviare a questo problema vengono impiegati sensori al quarzo modificati in modo da risultare sensibili indipendentemente ai due tipi di interazione, sacrificando però buona parte della sensibilità. La tecnologia proposta modifica il sensore a tuning fork, sia nella struttura che nel pilotaggio, in modo da mantenerne la caratteristica elevata sensibilità, ma al contempo la separazione degli effetti dei due tipi di interazione.
L’impiego del sensore proposto potrebbe portare al miglioramento delle prestazioni di sistemi per microscopia a scansione di sonda di tipo AFM e correlati, combinando l’elevata sensibilità della misura tipica dei sensori a tuning fork ad una migliore discriminazione delle due componenti del segnale di forza. Questo sarebbe ottenuto a scapito di una maggiore complicazione del modo di pilotaggio del sensore, tramite dell’elettronica addizionale.