Tecnologie

Proponiamo una tecnica ottica per il controllo veloce della presenza, sulle superfici esposte di persone o oggetti, di esplosivi e loro precursori, o droghe, o in generale sostanze non permesse in ambienti protetti: aeroporti, uffici giudiziari, luoghi di culto, eccetera. La tecnica permette fotografie bidimensionali, con tempi di esposizione < 1 sec, con l'indicazione delle sostanze bersaglio, e della loro posizione e quantità.

Presso IFN-CNR, in collaborazione con Politecnico di Milano-dipartimento di Fisica, abbiamo sviluppato approcci di microscopia Raman compatibili con lo studio e la caratterizzazione di campioni di interesse biologico e industriale. In dettaglio la nostra struttura ospita un microscopio Raman spontaneo confocale autocostruito e con le seguenti caratteristiche: due laser di eccitazione (660nm e 785nm), microscopio invertito (Olympus IX-73) e accoppiato a spettrometro/CCD Princeton.

Il procedimento consiste nel fabbricare membrane composite formate da una matrice polimerica che ingloba una carica di cristalli bidimensionali esfoliati secondo la tecnica avanzata wet-jet milling. Un materiale stratificato è micronizzato per mezzo di getti liquidi a pressione controllata. Materiali bidimensionali con spessore e dimensione laterale nanometrici sono dispersi in un fluido e veicolati all’interno di una matrice polimerica porosa con specifica morfologia.

Tecniche deposizione da soluzione chimica di precursori metal-organici hanno permesso la ricerca e lo sviluppo di strati sottili ossidi semplici e composti come Pb(Zr,Ti)O3, e Al2O3, fino all’applicazione industriale in dispositivi piroelettrici o capacitori. Le tecniche di deposizione usano spin-on o dip-coating. I vantaggi di queste tecniche sono:

(i) bassi costi di apparecchiatura e di reattivi

(ii) deposizione su larghe aree

(iii) basse temperature di cristallizzazione

I quarzi di tipo a tuning fork sono impiegati nella microscopia a scansione di forza atomica (AFM), e alcune tecniche derivate, come sensori ad elevata sensibilità delle interazioni, sia di tipo conservativo che dissipativo, della sonda nanometrica del microscopio AFM con la superficie in indagine. Tuttavia, nella risposta del sensore i contributi dei due tipi di interazione risultano  convoluti, non consentendo di effettuare misure pienamente quantitative delle grandezze di interesse.